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Katalog der UB Siegen

Ausstattung

Equipment

  • Zeiss Ultra 55 (FSEM)
  • FEI Quanta 250 (ESEM)
  • FEI DualBeam Helios 600 NanoLab (FIB)
  • FEI Talos 200 FA (TEM/STEM)
  • ION-TOF GmbH TOF.SIMS 4 (ION-TOF / TOF-SIMS)
  • Evans Analytical Group LLC XPS SSX-100 (XPS)
  • Veeco Instruments Inc. Veeco Bioscope (AFM)

 

   
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Zeiss Ultra 5

Zeiss Ultra 55, ein ultrahochauflösendes Feldemissions Rasterelektronenmikroskop (FSEM) mit Everhart-Thornley SE-Detektor, in-lens SE-Detektor und Energy selective Backscattered Detektor (EsB). Auflösung von 1 nm und 1.7 nm für SE und in-lens Detektor bei Beschleunigungsspannungen unter 1 kV. TEM Untersuchungen können mit Hilfe eines speziellen Halters durchgeführt werden. Energiedispersive Röntgenspektroskopie kann mit Hilfe eines Detektors der Firma Thermo Scientific durchgeführt werden und erlaubt qualitative und quantitative Elementanalyse/Mapping.

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TOF.SIMS 4

Das TOF.SIMS 4 ist ein Sekundärionen Massenspektrometer der Firma IONTOF GmbH für chemische Oberflächenanalyse und Tiefenprofil-Untersuchungen von wenigen Angströms bis hin zu einigen 10µm. ;

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Quanta 250 FEG – (ESEM)

Das Quanta 250 FEG ist ein field emission environmental scanning electron microscope (ESEM) als spezielle Variante eines Rasterelektronenmikroskops . Darüber hinaus ist ein EDX-System der Firma EDAX integriert. Das ESEM erlaubt mit Hilfe eines GSED-Secondary Electron Detektors sechs variable Vakuum Modi mit Drücken bis zu 4000 Pa. Zusätzlich besitzt das System einen Everhart-Thornley und einen low-kV Rückstreuelektronendetektor Eine kühlfähige Probenhalterung erlaubt die Untersuchung bei nahezu 100% Feuchtigkeit bis hin zu -20°C in Schritten von 0,1°

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FEI Talos 200 FA (TEM/STEM)

Das Talos™ F200A ist ein 200 kV FEG Scanning Transmisionselektronenmikroskop (S/TEM) zur quantitativen 2D/3D Charakterisierung von Nanomaterialien. Eine 4k x 4k Ceta™ 16M Kamera in Kombination mit einer Piezo-enhanced stage erlaubt einen großen Bildbereich mit Drift-korrigierten Aufnahmen von 25 fps. Das System besitzt einen On-axis Bright-Field/Dark-Field STEM Detektor für Z-Kontrast Imaging und Electron Energy Loss Spectroscopy EELS. Double-Tilt Specimen Holders warden unterstützt. Darüber hinaus besitzt das System einen Double Tilt Liquid Nitrogen Cooling holder für Untersuchungen <-170°C. Eine zusätzliche Tomographieoption erlaubt die Aufnahme von Bilderserien in TEM/STEM mode. Zur Elementanalyse besitzt das System einen Super-X EDX Deteckor. Ein Micro/Nano-probe-STEM Modus ist ebenso integraler Bestandteil des Systems und erlaubt nanobeam diffraction Untersuchungen.

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FEI DualBeam Helios 600 NanoLab (FIB)

Das Helios Nanolab 600 ist eine kombinierte REM/FIB workstation zur 3D Materialcharakterisierung, sub Nanometer Bildgebung (1nm@15 kV und 1.5nm@1 kV Das System besitzt eine 6” – piezo sample stage sowie einen charge neutralizer. Die Elektronenoptik besitzt einen Everhart-Thornley Detektor, eine magnetische Imersionslinse und In-lens Detektoren SE/RE der neuesten Generation. Ein vCD Detektor für Bildgebung mit hohem Kontrast und ein 14-Segment STEM Detektor sind integriert.

Mit Hilfe eine Raith ELPHY Quantum Erweiterung besteht die Möglichkeit zur Lithographie mit e- und I-Beam. Drei Mikro- Nanomanipulatoren ermöglichen sowohl elektrische Messungen als auch mechanische Beeinflussung der Proben (z.B. TEM-Lamellen). Für 3D Elementanalysen und Kristallstrukturuntersuchungen besitzt das System sowohl einen EDX als auch einen EDAX/TSL 3D EBSD Pegasus – XM 4 Detektor.

 

Evans Analytical Group LLC XPS SSX-100 (XPS)

Das Surface Science Instruments SSX-100 S-probe X-Ray Photoelectron Spectrometer (XPS) erlaubt die zerstörungsfreie qualitative und quantitative Analyse der chemischen Zusammensetzung vor allem von Festkörpern und oberflächennahen Schichten bis in eine Tiefe von ca. 5 - 7 nm mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Zudem lassen sich ggf. Rückschlüsse auf Oxidationszustände und lokale chemische Umgebung des untersuchten Systems ziehen.

 

Veeco Instruments Inc. Veeco Bioscope (AFM)

Das Rasterkraftmikroskop (Digital Instruments / VEECO BioScope, NanoScope IV Controller) ermöglicht Untersuchungen der Oberflächentopographie und Oberflächeneigenschaften u.a. in den folgenden Messmodi: contact mode, Reibung, Kraft-Abstandskurven (force volume imaging), tapping mode, tapping mode phase imaging, lift mode. Durch das integrierte invertierte optische Mik-roskop (Zeiss Axiovert 200) ist die Positionierung der AFM Spitze und simultane optisch-rasterkraftmikroskopische Analysen möglich. 

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JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP

Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP ist ein einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen. Weiche und harte Materialien sowie auch Verbund-werkstoffe können mit einem Minimum an Probenschädigung d.h. ohne Verformen und Verschmieren artefaktfrei präpariert werden.
Auflösung 3 nm @ 30 kV, 15 nm @ 1 kV, Beschleunigungsspannung 0.3 kV bis 30 kV, Probenstrom       1 pA bis 1 µA, Verfahrwege X – 125 mm, Y – 100 mm, Z – 80 mm (Motorisiert)

Jeol JSM-IT300 (REM)

Das Jeol JSM-IT300 ist die neueste Innovation in der beliebten Wolfram / LaB6 Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Dieses hochleistungs-fähige und vielseitige Rasterelektronenmikroskop kann für die verschiedensten Anwendungen genutzt werden. Vielseitigkeit und eine hohe Auflösung über den kompletten Vergrößerungsbereich von 5x - 300.000x sind die Markenzeichen der JEOL-REM Baureihe und das JSM-IT300 bietet diese Funktionen auf höchstem Niveau.

Raum- und Telefonverzeichnis der Geräte

 Zeiss Ultra 55 (FSEM) Raum: Tel.:
 FEI Quanta 250 (ESEM) Raum: PB-A 0127 Tel.: 2250
 FEI DualBeam Helios 600 NanoLab (FIB) Raum: PB-A 012671 Tel.: 2551
 FEI Talos 200 FA (TEM/STEM) Raum: PB-A 0104 Tel.: 5002
 ION-TOF GmbH TOF.SIMS 4 (ION-TOF / TOF-SIMS) Raum: Tel.: 
 Evans Analytical Group LLC XPS SSX-100 (XPS) Raum: Tel.: 
 Veeco Instruments Inc. Veeco Bioscope (AFM) Raum: Tel.: 
 JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP Raum: Tel.: 
 Jeol JSM-IT300 (REM) Raum: H-E 106 Tel.: 4422