Der Schwerpunkt der Tagung liegt auf in menschlichen Arbeitsabläufen und Alltagssituationen integrierten elektronischen Systemen. Vertreter aus Industrie und Forschung diskutieren gemeinsam Themen von der Entwurfsmethodik über die Verifikation digitaler Systeme bis hin zu Testmethoden und der Diagnose. Außerdem erhalten die Teilnehmer Gelegenheit, während einer Podiumsdiskussion das Thema Sicherheit beim vernetzten Automobil näher zu betrachten.
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- Neben einer Reihe eingereichter wissenschaftlicher Beiträge präsentieren die Referenten Sven Peyer (IBM), Carl Friedrich Gethmann (Universität Siegen), Peter van Staa (Robert Bosch), Ralf Montino (Elmos), David Pan (University of Texas at Austin) sowie Olaf Günnewig (SGS Institut Fresenius) vielfältige Aspekte dieser Thematik in eingeladenen Vorträgen.
Ort: Universität Siegen
Veranstalter: Rainer Brück, Kai Hahn, Lehrstuhl Mikrosystementwurf, FoKoS