Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) veranstaltet gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik in der erste Juliwoche einen viertägigen Workshop (von 01.07. bis 04.07.2024) zum Thema "Fortgeschrittene Rasterelektronen- und Ionenmikroskopie (REM, FIB)", zu dem wir alle Interessierten und Methodennutzer*innen herzlich einladen möchten. Im Anhang finden Sie den Flyer, der Sie über die wichtigsten Eckdaten des Workshops informiert. - - In diesem Workshop werden die methodischen Grundlagen der fortgeschrittenen Rasterelektronen- und Ionenmikroskopie (REM, FIB) sowie deren vielfältige Anwendungen vermittelt. Unser Ziel ist es, Ihnen neben spezifischen Einführungsvorlesungen zu den wichtigsten Methodenbereichen auch praktische Erfahrungen zu bieten. Sie haben die Gelegenheit, die verschiedenen Charakterisierungsverfahren direkt an den Geräten des MNaF zu erlernen.

Der Workshop „Prompt-Labor – Prompting mit KI-Chatbots kennenlernen” findet am Donnerstag, 4. Juli 2024, von 14 bis 16 Uhr im Digital Didactics Lab (AR-Z 108) statt. - - Die Veranstaltung richtet sich an alle Lehrenden und Interessierten der Universität Siegen. Vorkenntnisse sind nicht erforderlich. Die Teilnehmerzahl ist begrenzt.