Raman
Raman-Spektrometer
Nicolet Almega XR
Das Almega XR der Firma Thermo Nicolet ist ein vollständig softwaregesteuertes Raman-Spektrometer zur Charakterisierung von Schicht-Proben wie auch von Flüssigkeiten und Pulvern. Das dispersive System, welches am Lehrstuhls zur Verfügung steht, besitzt zwei mögliche Anregungslaserwellenlängen: 532 nm (frequenzverdoppelter Neodymium Doped Yttrium Orthvanadate Diode Pumped Solid State Laser (Nd:YVO4 DPSS), nominale Leistung 25 mW) und 780 nm (extern stabilisierter Diodenlaser, nominale Leistung 40 mW). Im Falle des 532 nm wie auch des 780 nm Lasers stehen zwei mögliche spektrale Auflösungen zur Verfügung, 7 cm-1 und 2 cm-1. Im niedrig bzw. hochaufgelösten Modus erfasst der 532 nm Laser einen Wellenzahlbereich von 6616 bis -4443 bzw. 4090 bis -710 cm-1, für den 780 nm Laser gelten entsprechend die Bereiche 3998 bis -98 bzw. 4001 bis -98 cm-1. Es stehen vier verschiedene Objektive bereit (10x, 50x, 50x long distance und 100x), die den Laserstrahl auf einen lokalen Bereich der Probenoberfläche von ca. 4 bis hinab zu 1 µm fokusieren.
Im Falle von Schicht-Proben erlaubt es eine komplett motorisierte Probenaufnahme dann an mehrere Punkte nacheinander automatisiert Spektren aufzunehmen, ganze line scans und sogar komplette Raman-Landkarten einer Oberfläche mit einer lateralen Schrittweite von 0,2 µm zu erzeugen. Im Kontext transparenter Proben ermöglicht die zusätzliche Option des Verschiebens des Laserfokus aus der Probenoberfläche heraus und in die Probenoberfläche hinein die Erstellung von Tiefenprofilen. In Kombination mit dem oben genannten Abrastern von Oberflächenbereichen ist so eine vollständige 3-dimensionale Charakterisierung eines Materials denkbar.
Am Lehrstuhl wird das Almega XR zur Charakterisierung aller hier erzeugter Schichtsysteme und Nanostrukturen, die eine Ramanaktivität aufweisen eingesetzt. Insbesondere ist es möglich einzelne Kohlenstoffnanostrukturen zu charakterisieren.