News

03.11.2020	Micro - Computertomographie (µCT) Herzlichen Glückwunsch! Prof. Robert Brandt hat mit Unterstützung des Gerätezentrums (MNaF) erfolgreich ein neues µCT-Gerät für tomographische 3D-Analysen von Materialien und Bauteilen bis in den Sub-µm-Bereich beantragt. Nach der Installation und erfolgreichen Inbetriebnahme des µCT-Geräts wird der Gerätepool des Zentrums um ein bedeutendes Gerät erweitert. Dadurch wird das Gerätezentrum in der Lage sein, noch breiteren Nutzergruppen Messmöglichkeiten und Dienstleistungen anzubieten.	Segmentierte Pulverpartikel in einer Glaskapillare – Der Ausschnitt zeigt die segmentierten Partikel in 3D (oben) und den Vorgang der Segmentierung in 2D (unten). Citation: tm - Technisches Messen 87, 2; 10.1515/teme-2019-0125
22.07.2020	PEP2020- Plunge Freezer Das MNaF PEP-Team, das aus vier Studenten des Bachelorstudiengangs Maschinenbau bestand, hat im Rahmen des diesjährigen Planungs- und Entwicklungsprojekts ein Gerät zur Probenvorbereitung von Material- und (Bio-)Medizinforschungsproben, welche als Suspension, Dispersion, Biofluid, etc. vorliegen, für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie erfolgreich entwickelt und einsatzbereit gefertigt.
15.06.2020	2020 MNaF SEM/FIB & SIMS School Auf der verlinkten Seite finden Sie aktualisierte Informationen (Bilder, Fragen und Antworten, etc...) bezüglich des Workshops. Bei organisatorischen Fragen wenden Sie sich bitte an Dr. Yilmaz Sakalli. Für wissenschaftliche Fragen können Sie sich direkt an die einzelnen Betreuer und Dozenten wenden.
15.06.2020	MNaF Newsletter Q1/2020 Wir freuen uns darauf, Ihnen den ersten informativen MNaF Newsletter vorzustellen
05.06.2020	REM / FIB & SIMS-School 2020 Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik MNaF veranstaltet zusammen mit den Lehrstühlen für Mikro- und Nanoanalytik, Analytische Chemie & Bau- und Werkstoffchemie im Frühjahr 2020 eine REM/FIB & SIMS-School, zu der wir alle Interessierten herzlich einladen. Im Anhang finden Sie den Flyer, der Sie über die wichtigsten Eckdaten des Workshops informiert. Die REM/FIB & SIMS School startet in der KW 25 mit online Vorlesungen am 16., 17. und 18.06.2020. Die Versuche werden während des Semesters stattfinden. Der Workshop wird je nach Bedarf in deutscher oder englischer Sprache durchgeführt. Im Workshop werden die methodischen Grundlagen der fortgeschrittenen Rasterelektronen- und ionenmikroskopie (REM, FIB) sowie der Sekundärionenmassenspektroskopie (SIMS) und deren Anwendungen vermittelt. Diese sollen den Teilnehmern einen einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung ermöglichen. Bei Rückfragen kontaktieren Sie bitte Dr. Yilmaz Sakalli
10.05.2019	Einladung - Offene Uni 2019 Am Samstag, 18. Mai, lädt die Universität Siegen auf dem Platz des Unteren Schlosses zur „Offenen Uni 2019“ ein. An diesem Tag öffnet sich die Uni allen Interessierten und präsentiert sich in ihrer ganzen Vielfalt – mit zahlreichen Ständen, Mitmachaktionen, Vorträgen und Bühnenacts. Unter dem Motto „Spitzenforschung begreifen — Faszination Nanokosmos“ laden wir Sie auch ein, bei uns vorbeizukommen, um die Faszination des unsichtbar Kleinen um uns herum kennenzulernen. Unser Stand ist für Kinder geeignet und die Kinder sind auch herzlich willkommen.
15.04.2019	Interdisziplinären Laborgebäudes für Nanoanalytik, Nanochemie und cyber-physische Sensortechnologien INCYTE Das Raumprogramm des neuen interdisziplinären Laborgebäudes (INCYTE) wurde vollständig vom Land NRW genehmigt. Nach der Fertigstellung des Laborgebäudes wird das INCYTE die neue Heimat des MNaF werden. Für die derzeitige und geplante Ausstattung des MNaF sind im INCYTE-Neubau 7 Highend-Elektronenmikroskopie-Labore sowie Labore für die komplementäre Analytik (Röntgendiffraktometrie (XRD), Computertomographie (CT), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Rastersondenverfahren, u.a.) vorgesehen. Hinzu kommen mehrere Labore für Synthese und Präparation sowie diverse zusätzliche physikalische Messräume, die den am MNaF beteiligten Gruppen zugeteilt werden.
20.03.2019	Die zweite Vorstandssitzung des Gerätezentrums im WS 2018/19 Der Vorstand trat am 20.02.2019 zur zweiten Vorstandssitzung des Gerätezentrums im Wintersemester2018/19 zusammen. Ein zentrales Thema waren die aktuellen Großgeräteanträge zur Beschaffung eines abbildenden EEL-Spektrometers für die Transmissionelektronenmikroskopie und eines Computertomographen (µCT), die beide bei der strategischen Entwicklung des Gerätezentrums eine zentrale Rolle spielen sollen. Darüber hinaus wurde ein neues Pilotprojekt zur Arbeitssicherheit vorgestellt, das weiter zur Professionalisierung des MNaF beitragen wird.
05.03.2019	TEM-School 2019 Nach einem erfolgreichen ersten TEM-School im Jahr 2018 laden wir alle (potentiellen) Nutzer unseres Transmissionselektronenmikroskops herzlich zur diesjährigen TEM-Schule 2019 ein. Die TEM School wird vom Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) und dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik (LMN) durchgeführt. In der TEM-School geht es darum, die methodischen Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren praktische Umsetzung am Gerät zu vermitteln und den Teilnehmern dadurch einen schnellen und einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung zu ermöglichen. Die detaillierte Informationen finden Sie im Flyer. Um sich bis zum 13.3.2019 für die diesjährige TEM School anzumelden, kontaktieren Sie bitte Dr.-Ing. Julian Müller oder Dr. Yilmaz Sakalli frühzeitig.
12.02.2019	Erfolgreiche Registrierung in die DFG-Datenbank RIsources Mit RIsources (RI = Research Infrastructure) bietet die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) ein Informationsportal zu wissenschaftlichen Forschungsinfrastrukturen an, die Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftlern Ressourcen und Dienstleistungen zur Planung und Durchführung von Forschungsvorhaben bereitstellen. RIsources erschließt Forschungsinfrastrukturen, die ein anerkanntes, etabliertes wissenschaftliches und technologisches Angebot bieten, die einen freien Zugang erlauben oder diesen über einen transparenten Auswahlprozess auf der Basis von wissenschaftlicher Qualität und Machbarkeit des Projekts regeln, die über ein nachhaltiges Management verfügen und eine langfristige Perspektive besitzen. Nach einer erfolgreichen Antragstellung ist das Siegener Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) in die Forschungsinfrastruktur-Datenbank der Deutschen Forschungsgemeinschaft aufgenommen worden. Hier der Link zur DFG-Datenbank.
06.12.2018	Erste Vorstandssitzung des Gerätezentrums im WS 2018/19 Am 14.11.2018 fand die erste Vorstandssitzung des Gerätezentrums im Wintersemester 2018/19 statt. Der Vorstandsvorsitzender Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die allgemeine Lage des Gerätezentrums informiert. Der Vorstand hat sich zur weiteren Entwicklung des Gerätezentrums beraten. B. Butz und Y. Sakalli berichteten über den Haushalt von 2018. Sie haben auch den Vorstand über den aktuellen Stand der Registrierung des Gerätezentrums in der DFG–Datenbank informiert. B. Butz hat über den ersten gelungenen Workshop zur Lichtmikroskopie an einer Grundschule im Landkreis berichtet. Dieses Angebot soll als ein Baustein der Öffentlichkeitsarbeit des MNaF systematisch ausgebaut werden.
15.11.2019	SHK Seit November ist Paul Nauditt Teil des MNaF Teams. Paul unterstützt den Geschäftsführer des MNaF in allen administrativen Aufgaben. Wir freuen uns über die tatkräftige Unterstützung! Herzlich Willkommen Paul!
09.11.2018	Software-Upgrade an der FEI Helios NanoLab FIB Aufgrund des intensiven Einsatzes der Dual-Beam FIB durch derzeit über 25 Nutzer am MNaF wurde die veraltete Software für spektroskopische und kristallographische Messungen (EDXS, EBSD) aus Mitteln des Gerätezentrums auf die neuste TEAM-Software der Firma EDAX aktualisiert. Das neue Softwarepaket stellt als Komplettlösung für die analytische Mikroskopie die modernste und umfangreichste Gerätefunktionalität gepaart mit einfacher Bedienbarkeit zur Verfügung. Es erlaubt zusätzlich zu den bereits bekannten EDS-/EBSD-Analysen die sogenannte Transmission EBSD (tEBSD) und Transmission Kikuchi Diffraction (TKD) und beinhaltet schnelle, präzise und leistungsstarke Auswerte- und Simulationstools zur Visualisierung komplexer spektroskopischer sowie kristallographischer Daten. Ferner erlaubt die neue Software eine optimierte Driftkorrektur für Langzeitmessungen. Alle Nutzer sind herzlich eingeladen, diese neuen Möglichkeiten für ihre Forschung einzusetzen. Die aktuelle Bedienungsanleitung wurde an die bestehenden Gerätenutzer versandt und es haben bereits erste Unterweisungen in die neue Software stattgefunden. Bei Interesse bzw. weiteren Rückfragen wenden Sie sich bitte an die Gerätebetreuer Dr. Yilmaz Sakalli (#4750) oder Dr.-Ing. Julian Müller (#2415)
26.07.2018	Information zu Drittmitteleinwerbungen & MNaF-Danksagung Bitte beachten Sie das aktuelle Schreiben des Dekanats der Fakultät IV und des MNaF-Präsidiums zur Möglichkeit der Einwerbung zusätzlicher Drittmittel zur Deckung von Gerätenutzungskosten am MNaF sowie zur Danksagung in zukünftigen Veröffentlichungen. Wir bitten Sie, diese Information auch an Ihre Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter weiterzuleiten. Aktuelles Schreiben des Dekanats der Fakultät IV und des MNaF-Präsidiums Wichtige Auszüge aus dem Schreiben: Einfacher Großgerätezugang am MNaF Danksagung in zukünftigen Veröffentlichungen (sofern MNaF-Geräte für die Forschung eingesetzt worden sind)
13.06.2018	Bereits vergeben: In der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät ist am Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) zum nächstmöglichen Zeitpunkt eine Stelle als studentische Hilfskraft (SHK) mit einer durchschnittlichen Arbeitszeit von ca. 10 Stunden in der Woche befristet auf ein Jahr (mit der Option auf Verängerung) zu besetzen. Die Beschäftigungsdauer richtet sich nach den Vorschriften des Wissenschaftszeitvertragsgesetzes. Auskunft erteilt Herr Dr. Yilmaz Sakalli, Tel.: 0271 740-4750 oder Email: sakalli@nt.uni-siegen.de MNaF_studentische Hilfskraft (SHK)
06.06.2018	Der Vorstand des Gerätezentrums trat am 06.06.2018 zusammen; zukünftige Vorstandstreffen werden an wiederkehrenden Terminen jeweils zu Beginn und am Ende der Vorlesungszeit stattfinden. Der Vorstandsvorsitzende Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die abgeschlossenen und laufenden Projekte und über strategische Entwicklungen des Gerätezentrums informiert. Der Haushalt von 2017 wurde diskutiert und der Haushaltsplan für 2018 vorgestellt. Ferner wurde über die erste Teilnahme des Gerätezentrums an dem Event "Offene Uni" und die erfolgreich durchgeführte erste TEM-School für Materialforschung an der Uni Siegen berichtet. Prof. Dr. Brandt wurde einstimmig in den Vorstand des Gerätezentrums aufgenommen.
29.05.2018	Offene Uni 2018 Am 05.05.2018 fand zum zweiten Mal die Offene Uni auf dem Schlossplatz in Siegen statt, die den Besucher/Innen die Möglichkeit bot, die Uni Siegen und ihre Mitarbeiter aus nächster Nähe kennenzulernen. An den insgesamt 38 Ständen auf dem Schlossplatz konnten Besucher/Innen Forschung hautnah erleben und sogar eigene Experimente durchführen. Das Gerätezentrum war dieses Jahr erstmalig mit einem eigenen Stand vertreten und lud alle Interessierte dazu ein, den Stand "Faszination Nanokosmos" zu besuchen. Dabei war der Grüne Zipfelfalter (Callophrys Ruby) - ein kleiner grüner Schmetterling, der unter Lichtmikroskopen ausgestellt war- der eigentliche Star am Stand; denn seine photonischen Kristalle, die die leuchtend grüne Farbe seiner Flügel erzeugen, dienen Wissenschaftler/Innnen auch als Vorbild für neue technische Anwendungen.
26.04.2018	1. Siegener TEM-School erfolgreich! Es ist geschafft! Die erste TEM-School für Materialforschung an der Uni Siegen konnte erfolgreich durchgeführt werden. Die ursprünglichen Erwartungen des MNaF sowie des Lehrstuhls LMN wurden durch 15 teilnehmende Studierende und Promovierende deutlich übertroffen. Während am ersten Tag noch die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie und konventionelle Beugungs- und Defektanalyse behandelt wurden, ging es an Tag zwei schon um die fortgeschrittene Materialcharakterisierung und chemische Analyse mittels HR-TEM, (HR)-STEM und STEM-EDX. All diejenigen, die es nicht mehr geschafft haben dieses Jahr daran teilzunehmen, können sich schon jetzt auf die TEM-School im Frühjahr 2019 freuen, in der wir neben den zahlreichen Laborpraktika noch intensiver die methodischen Grundlagen der materialwissenschaftlichen Elektronenmikroskopie und die verschiedene Verfahren der Probenpräparation thematisieren wollen.
16.04.2018	Neu verfügbar: Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean Ab sofort steht am MNaF ein neuer Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean zur sanften Entfernung von Kohlenwasserstoffkontaminationen auf Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (und andere Anwendungen) zur Verfügung. Die Hauptanwendung wird auf der Reinigung von TEM-Proben (und Haltern) für Messungen auf der nm- und atomaren Skala liegen. Daher wird Gerät in Kürze ins TALOS-Labor eingebracht werden. Eine entsprechende Einweisung der TEM-Nutzer wird nach Absprache stattfinden. Freundlicherweise hatte uns Matthias Stumpf (Fischione Germany GmbH) bereits im Vorfeld einen gebrauchten Plasmareiniger 1020 zur Nutzung überlassen, der bis auf Weiteres als Leihgabe am MNaF verbleiben wird. Dieser soll zeitnah für die Reinigung von REM-Proben umgerüstet werden und wird dann ebenfalls zur Verfügung stehen. Weitere Informationen folgen. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz Neu verfügbar: feinmechanische Drahtsäge DWS100 der Diamond WireTec GmbH & Co.KG Die DWS100 ist eine Drahtsäge, die empfindliche Proben mittels diamantbesetztem Draht trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation von Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie aber auch für viele andere Anwendungen. Der große Vorteil dieser Säge, im Gegensatz zu Sägen mit Trennscheiben, liegt darin, dass der bereits getrennte Probenbereich bis zum Schnittende nicht weiter mechanisch belastet wird. Damit wird zum Beispiel die Ausbildung von Rissen in empfindlichen Proben wie Einkristallen, Wafern und spröden Beschichtungen unterbunden. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis (80x80) mm², Scheibendicke mehrere mm bis 200 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust 250 µm, Schnittrauigkeit wenige 10 µm. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz Neu verfügbar: feinstmechanische Drahtsäge WS22 von K.D.Unipress Die WS22 von K.D.Unipress ist die feinste auf dem Weltmarkt verfügbare Säge, die mittels Wolframdraht und Diamantsuspension Proben im Läppverfahren trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation hochempfindlicher Proben wie Einkristalle, Wafer und Bauelemente. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis etwa (10x10) mm², Scheibendicke mehrere mm bis zu etwa 100 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust < 100 µm, Schnittrauigkeit wenige µm. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz
14.03.2018	Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) veranstaltet gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik & -tomographie (LMN) am 26. - 29.03.18 erstmals eine TEM-School. In der TEM-School geht es darum, die methodischen Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren praktische Umsetzung am Gerät zu vermitteln und den Teilnehmern dadurch einen schnellen und einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung zu ermöglichen.
06.02.2018	Der Vorstand des Gerätezentrums MNaF hat getagt. Der Vorstandsvorsitzende Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die abgeschlossenen, laufenden und geplanten Projekte und über die allgemeine Lage des Gerätezentrums informiert. Dabei wurden insbesondere wichtige Inhalte zur Weiterführung und zukünftigen Ausrichtung des Zentrums diskutiert. Dem Antrag von Prof. Dr. R. Brandt über die Aufnahme eines Röntgendiffraktometers in das Gerätezentrum wurde einstimmig stattgegeben. Dadurch wurde der Gerätepool des Zentrums um ein bedeutendes Gerät erweitert. Somit ist das Gerätezentrum in der Lage, noch breiteren Nutzergruppen Messmöglichkeiten und Dienstleistungen anzubieten.
03.11.2017	Neues MNaF-Präsidium gewählt: Prof Carsten Engelhardt (Analytische Chemie), Prof. Peter Haring Bolivar (Elektrotechnik) und Prof. Benjamin Butz (Maschinenbau) wurden zum neuen Präsidium des MNaF gewählt; Benjamin Butz übernahm hierbei den Vorsitz. Er ist seit Oktober 2017 an der Universität Siegen und wird durch seine Expertise in der fortgeschrittenen Elektronenmikroskopie bis auf die atomare Skala Department übergreifend einen wichtigen Beitrag zur Materialforschung am Standort beitragen können.
08.06.2016	An den Räumen für die FIB (PB –A 0126/1) und das TEM/STEM (PB-A 0104) wurde ein neues offline Schließsystem eingeführt. Die eingetragenen Nutzer wurden über das Onlinebuchungssystem hiervon unterrichtet.
01.06.2016	Die Installation des neuen JEOL IT 300 SEMs (Beschafft durch die AG Lemme http://www.nano.eti.uni-siegen.de/ wurde in den Reinräumen abgeschlossen. Es läuft derzeit ein Training für erste Nutzer durch den Serviceingenieur. Das Gerät wird in den kommenden Wochen ausgiebig getestet und voraussichtlich zum 1.7.2016 für die Nutzer zur Verfügung stehen.
27.05.2016	Die Geräte- bzw. Personenspezifischen Anhänge in der Nutzerordnung wurden aktualisiert.
25.04.2016	Das Auftragsformular für interne Nutzer steht auf unserer Webseite zur Verfügung!
01.02.2016	Die Installation des neuen Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP ist abgeschlossen. Das Geräte steht für die Nutzer voraussichtlich ab 1.3.2016 für die Nutzer zur Verfügung.