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26.07.2018	Information zu Drittmitteleinwerbungen & MNaF-Danksagung Bitte beachten Sie das aktuelle Schreiben des Dekanats der Fakultät IV und des MNaF-Präsidiums zur Möglichkeit der Einwerbung zusätzlicher Drittmittel zur Deckung von Gerätenutzungskosten am MNaF sowie zur Danksagung in zukünftigen Veröffentlichungen. Wir bitten Sie, diese Information auch an Ihre Mitarbeiterinnen und Mitarbeiter weiterzuleiten. Aktuelles Schreiben des Dekanats der Fakultät IV und des MNaF-Präsidiums Wichtige Auszüge aus dem Schreiben: Einfacher Großgerätezugang am MNaF Danksagung in zukünftigen Veröffentlichungen (sofern MNaF-Geräte für die Forschung eingesetzt worden sind)
13.06.2018	In der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät ist am Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) zum nächstmöglichen Zeitpunkt eine Stelle als studentische Hilfskraft (SHK) mit einer durchschnittlichen Arbeitszeit von ca. 10 Stunden in der Woche befristet auf ein Jahr (mit der Option auf Verängerung) zu besetzen. Die Beschäftigungsdauer richtet sich nach den Vorschriften des Wissenschaftszeitvertragsgesetzes. Auskunft erteilt Herr Dr. Yilmaz Sakalli, Tel.: 0271 740-4750 oder Email: sakalli@nt.uni-siegen.de MNaF_studentische Hilfskraft (SHK)
06.06.2018	Der Vorstand des Gerätezentrums trat am 06.06.2018 zusammen; zukünftige Vorstandstreffen werden an wiederkehrenden Terminen jeweils zu Beginn und am Ende der Vorlesungszeit stattfinden. Der Vorstandsvorsitzende Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die abgeschlossenen und laufenden Projekte und über strategische Entwicklungen des Gerätezentrums informiert. Der Haushalt von 2017 wurde diskutiert und der Haushaltsplan für 2018 vorgestellt. Ferner wurde über die erste Teilnahme des Gerätezentrums an dem Event "Offene Uni" und die erfolgreich durchgeführte erste TEM-School für Materialforschung an der Uni Siegen berichtet. Prof. Dr. Brandt wurde einstimmig in den Vorstand des Gerätezentrums aufgenommen.
29.05.2018	Offene Uni 2018 Am 05.05.2018 fand zum zweiten Mal die Offene Uni auf dem Schlossplatz in Siegen statt, die den Besucher/Innen die Möglichkeit bot, die Uni Siegen und ihre Mitarbeiter aus nächster Nähe kennenzulernen. An den insgesamt 38 Ständen auf dem Schlossplatz konnten Besucher/Innen Forschung hautnah erleben und sogar eigene Experimente durchführen. Das Gerätezentrum war dieses Jahr erstmalig mit einem eigenen Stand vertreten und lud alle Interessierte dazu ein, den Stand "Faszination Nanokosmos" zu besuchen. Dabei war der Grüne Zipfelfalter (Callophrys Ruby) - ein kleiner grüner Schmetterling, der unter Lichtmikroskopen ausgestellt war- der eigentliche Star am Stand; denn seine photonischen Kristalle, die die leuchtend grüne Farbe seiner Flügel erzeugen, dienen Wissenschaftler/Innnen auch als Vorbild für neue technische Anwendungen.
26.04.2018	1. Siegener TEM-School erfolgreich! Es ist geschafft! Die erste TEM-School für Materialforschung an der Uni Siegen konnte erfolgreich durchgeführt werden. Die ursprünglichen Erwartungen des MNaF sowie des Lehrstuhls LMN wurden durch 15 teilnehmende Studierende und Promovierende deutlich übertroffen. Während am ersten Tag noch die Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie und konventionelle Beugungs- und Defektanalyse behandelt wurden, ging es an Tag zwei schon um die fortgeschrittene Materialcharakterisierung und chemische Analyse mittels HR-TEM, (HR)-STEM und STEM-EDX. All diejenigen, die es nicht mehr geschafft haben dieses Jahr daran teilzunehmen, können sich schon jetzt auf die TEM-School im Frühjahr 2019 freuen, in der wir neben den zahlreichen Laborpraktika noch intensiver die methodischen Grundlagen der materialwissenschaftlichen Elektronenmikroskopie und die verschiedene Verfahren der Probenpräparation thematisieren wollen.
16.04.2018	Neu verfügbar: Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean Ab sofort steht am MNaF ein neuer Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean zur sanften Entfernung von Kohlenwasserstoffkontaminationen auf Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (und andere Anwendungen) zur Verfügung. Die Hauptanwendung wird auf der Reinigung von TEM-Proben (und Haltern) für Messungen auf der nm- und atomaren Skala liegen. Daher wird Gerät in Kürze ins TALOS-Labor eingebracht werden. Eine entsprechende Einweisung der TEM-Nutzer wird nach Absprache stattfinden. Freundlicherweise hatte uns Matthias Stumpf (Fischione Germany GmbH) bereits im Vorfeld einen gebrauchten Plasmareiniger 1020 zur Nutzung überlassen, der bis auf Weiteres als Leihgabe am MNaF verbleiben wird. Dieser soll zeitnah für die Reinigung von REM-Proben umgerüstet werden und wird dann ebenfalls zur Verfügung stehen. Weitere Informationen folgen. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz Neu verfügbar: feinmechanische Drahtsäge DWS100 der Diamond WireTec GmbH & Co.KG Die DWS100 ist eine Drahtsäge, die empfindliche Proben mittels diamantbesetztem Draht trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation von Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie aber auch für viele andere Anwendungen. Der große Vorteil dieser Säge, im Gegensatz zu Sägen mit Trennscheiben, liegt darin, dass der bereits getrennte Probenbereich bis zum Schnittende nicht weiter mechanisch belastet wird. Damit wird zum Beispiel die Ausbildung von Rissen in empfindlichen Proben wie Einkristallen, Wafern und spröden Beschichtungen unterbunden. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis (80x80) mm², Scheibendicke mehrere mm bis 200 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust 250 µm, Schnittrauigkeit wenige 10 µm. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz Neu verfügbar: feinstmechanische Drahtsäge WS22 von K.D.Unipress Die WS22 von K.D.Unipress ist die feinste auf dem Weltmarkt verfügbare Säge, die mittels Wolframdraht und Diamantsuspension Proben im Läppverfahren trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation hochempfindlicher Proben wie Einkristalle, Wafer und Bauelemente. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis etwa (10x10) mm², Scheibendicke mehrere mm bis zu etwa 100 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust < 100 µm, Schnittrauigkeit wenige µm. Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz
14.03.2018	Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) veranstaltet gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik & -tomographie (LMN) am 26. - 29.03.18 erstmals eine TEM-School. In der TEM-School geht es darum, die methodischen Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren praktische Umsetzung am Gerät zu vermitteln und den Teilnehmern dadurch einen schnellen und einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung zu ermöglichen.
06.02.2018	Der Vorstand des Gerätezentrums MNaF hat getagt. Der Vorstandsvorsitzende Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die abgeschlossenen, laufenden und geplanten Projekte und über die allgemeine Lage des Gerätezentrums informiert. Dabei wurden insbesondere wichtige Inhalte zur Weiterführung und zukünftigen Ausrichtung des Zentrums diskutiert. Dem Antrag von Prof. Dr. R. Brandt über die Aufnahme eines Röntgendiffraktometers in das Gerätezentrum wurde einstimmig stattgegeben. Dadurch wurde der Gerätepool des Zentrums um ein bedeutendes Gerät erweitert. Somit ist das Gerätezentrum in der Lage, noch breiteren Nutzergruppen Messmöglichkeiten und Dienstleistungen anzubieten.
03.11.2017	Neues MNaF-Präsidium gewählt: Prof Carsten Engelhardt (Analytische Chemie), Prof. Peter Haring Bolivar (Elektrotechnik) und Prof. Benjamin Butz (Maschinenbau) wurden zum neuen Präsidium des MNaF gewählt; Benjamin Butz übernahm hierbei den Vorsitz. Er ist seit Oktober 2017 an der Universität Siegen und wird durch seine Expertise in der fortgeschrittenen Elektronenmikroskopie bis auf die atomare Skala Department übergreifend einen wichtigen Beitrag zur Materialforschung am Standort beitragen können.
08.06.2016	An den Räumen für die FIB (PB –A 0126/1) und das TEM/STEM (PB-A 0104) wurde ein neues offline Schließsystem eingeführt. Die eingetragenen Nutzer wurden über das Onlinebuchungssystem hiervon unterrichtet.
01.06.2016	Die Installation des neuen JEOL IT 300 SEMs (Beschafft durch die AG Lemme http://www.nano.eti.uni-siegen.de/ wurde in den Reinräumen abgeschlossen. Es läuft derzeit ein Training für erste Nutzer durch den Serviceingenieur. Das Gerät wird in den kommenden Wochen ausgiebig getestet und voraussichtlich zum 1.7.2016 für die Nutzer zur Verfügung stehen.
27.05.2016	Die Geräte- bzw. Personenspezifischen Anhänge in der Nutzerordnung wurden aktualisiert.
25.04.2016	Das Auftragsformular für interne Nutzer steht auf unserer Webseite zur Verfügung!
01.02.2016	Die Installation des neuen Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP ist abgeschlossen. Das Geräte steht für die Nutzer voraussichtlich ab 1.3.2016 für die Nutzer zur Verfügung.