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News

26.04.2018

1. Siegener TEM-School erfolgreich!

Es ist geschafft! Die erste TEM-School für Materialforschung an der Uni Siegen konnte erfolgreich durchgeführt werden. Die ursprünglichen Erwartungen des MNaF sowie des Lehrstuhls LMN wurden durch 15 teilnehmende Studierende und Promovierende deutlich übertroffen. Diejenigen, die es nicht mehr geschafft haben dieses Jahr teilzunehmen, können sich schon jetzt auf die TEM-School im Frühjahr 2019 freuen, in der wir neben den zahlreichen Laborpraktika noch intensiver die methodischen Grundlagen der  materialwissenschaftlichen Elektronenmikroskopie und die verschiedenen Verfahren der Probenpräparation thematisieren wollen.

 
16.04.2018

Neu verfügbar: Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean 

Ab sofort steht am MNaF ein neuer Plasmareiniger Fischione 1070 NanoClean zur sanften Entfernung von Kohlenwasserstoffkontaminationen auf Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie (und andere Anwendungen) zur Verfügung. Die Hauptanwendung wird auf der Reinigung von TEM-Proben (und Haltern) für Messungen auf der nm- und atomaren Skala liegen. Daher wird Gerät in Kürze ins TALOS-Labor eingebracht werden. Eine entsprechende Einweisung der TEM-Nutzer wird nach Absprache stattfinden.
Freundlicherweise hatte uns Matthias Stumpf (Fischione Germany GmbH) bereits im Vorfeld einen gebrauchten Plasmareiniger 1020 zur Nutzung überlassen, der bis auf Weiteres als Leihgabe am MNaF verbleiben wird. Dieser soll zeitnah für die Reinigung von REM-Proben umgerüstet werden und wird dann ebenfalls zur Verfügung stehen. Weitere Informationen folgen.
 
Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz 
 

Neu verfügbar: feinmechanische Drahtsäge DWS100 der Diamond WireTec GmbH & Co.KG 

Die DWS100 ist eine Drahtsäge, die empfindliche Proben mittels diamantbesetztem Draht trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation von Proben für die Raster- und Transmissionselektronenmikroskopie aber auch für viele andere Anwendungen. Der große Vorteil dieser Säge, im Gegensatz zu Sägen mit Trennscheiben, liegt darin, dass der bereits getrennte Probenbereich bis zum Schnittende nicht weiter mechanisch belastet wird. Damit wird zum Beispiel die Ausbildung von Rissen in empfindlichen Proben wie Einkristallen, Wafern und spröden Beschichtungen unterbunden. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis (80x80) mm², Scheibendicke mehrere mm bis 200 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust 250 µm, Schnittrauigkeit wenige 10 µm.
 
Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz
 

Neu verfügbar: feinstmechanische Drahtsäge WS22 von K.D.Unipress 

Die WS22 von K.D.Unipress ist die feinste auf dem Weltmarkt verfügbare Säge, die mittels Wolframdraht und Diamantsuspension Proben im Läppverfahren trennt. Sie eignet sich hervorragend für die Präparation hochempfindlicher Proben wie Einkristalle, Wafer und Bauelemente. Spezifikationen: Schnittfläche wenige mm² bis etwa (10x10) mm², Scheibendicke mehrere mm bis zu etwa 100 µm (bei kleinen Querschnittsflächen), Schnittverlust < 100 µm, Schnittrauigkeit wenige µm.
 
Ansprechpartner: Dr.-Ing. Julian Müller, Prof. Dr. Benjamin Butz 		 
14.03.2018
Das Gerätezentrum für Mikro- und Nanoanalytik (MNaF) veranstaltet gemeinsam mit dem Lehrstuhl für Mikro- und Nanoanalytik & -tomographie (LMN) am 26. - 29.03.18 erstmals eine TEM-School. In der TEM-School geht es darum, die methodischen Grundlagen der Transmissionselektronenmikroskopie sowie deren praktische Umsetzung am Gerät zu vermitteln und den Teilnehmern dadurch einen schnellen und einfachen Zugang zu anspruchsvollen mikroskopischen Methoden für ihre Forschung zu ermöglichen.
talos
06.02.2018 Der Vorstand des Gerätezentrums MNaF hat getagt.  Der Vorstandsvorsitzende Prof. Dr. B. Butz und der Geschäftsführer des Gerätezentrums Dr. Y. Sakalli haben den Vorstand über die abgeschlossenen, laufenden und geplanten Projekte und über die allgemeine Lage des Gerätezentrums informiert. Dabei wurden insbesondere wichtige Inhalte zur Weiterführung und zukünftigen Ausrichtung des Zentrums diskutiert.
Dem Antrag von Prof. Dr. R. Brandt über die Aufnahme eines Röntgendiffraktometers in das Gerätezentrum wurde einstimmig stattgegeben. Dadurch wurde der Gerätepool des Zentrums um ein bedeutendes Gerät erweitert. Somit ist das Gerätezentrum in der Lage, noch breiteren Nutzergruppen Messmöglichkeiten und Dienstleistungen anzubieten.		  
03.11.2017 Neues MNaF-Präsidium gewählt: Prof Carsten Engelhardt (Analytische Chemie), Prof. Peter Haring Bolivar (Elektrotechnik) und Prof. Benjamin Butz (Maschinenbau) wurden zum neuen Präsidium des MNaF gewählt; Benjamin Butz übernahm hierbei den Vorsitz. Er ist seit Oktober 2017 an der Universität Siegen und wird durch seine Expertise in der fortgeschrittenen Elektronenmikroskopie bis auf die atomare Skala Department übergreifend einen wichtigen Beitrag zur Materialforschung am Standort beitragen können.  
08.06.2016 An den Räumen für die FIB (PB –A 0126/1) und das TEM/STEM (PB-A 0104) wurde ein neues offline Schließsystem eingeführt. Die eingetragenen Nutzer wurden über das Onlinebuchungssystem hiervon unterrichtet.  
01.06.2016 Die Installation des neuen JEOL IT 300 SEMs (Beschafft durch die AG Lemme http://www.nano.eti.uni-siegen.de/ wurde in den Reinräumen abgeschlossen. Es läuft derzeit ein Training für erste Nutzer durch den Serviceingenieur. Das Gerät wird in den kommenden Wochen ausgiebig getestet und voraussichtlich zum 1.7.2016 für die Nutzer zur Verfügung stehen.   
27.05.2016 Die Geräte- bzw. Personenspezifischen Anhänge in der Nutzerordnung wurden aktualisiert.  
25.04.2016 Das Auftragsformular für interne Nutzer steht auf unserer Webseite zur Verfügung!  
01.02.2016 Die Installation des neuen Der JEOL Cross Section Polisher IB-19500CP ist abgeschlossen. Das Geräte steht für die Nutzer voraussichtlich ab 1.3.2016 für die Nutzer zur Verfügung.  
Aktualisiert via XIMS am 3.5.2018 von J. Stötzel