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Neue Ergebnisse: Mehrweg-Tiefenbildgebung mit
ToF-Sensoren
Dr. Miguel Heredia Conde (ZESS) und Dr. Thomas Kerstein
(pmdtechnologies AG) präsentierten auf der 18. IEEE SENSORS die
neuesten Ergebnisse der Zusammenarbeit beider Institutionen auf
dem Gebiet der Mehrweg-Tiefenbildgebung mit ToF-Sensoren. Die
Konferenz fand im Oktober 2019 in Montreal (Kanada) statt. Die
Live-Demo diente als Proof-of-Concept für frühere Arbeiten der
Autoren (Miguel Heredia Conde, Ayush Bhandari, Thomas Kerstein,
Bernd Buxbaum und Otmar Loffeld) bei der Bewältigung der
Mehrwegestörung (MPI), einer Hauptfehlerquelle bei der
ToF-Tiefenbildgebung. Unter Verwendung eines realistischen
Aufbaus zeigt die Demonstration, dass es möglich ist, mehr als
einen einzelnen Lichtweg pro Pixel bei akzeptabel hohen
Bildraten aufzulösen.
Für unsere chinesischen Gäste:
Das vollständige Video ist hier zu finden.
Zessplorations: