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Neue Ergebnisse: Mehrweg-Tiefenbildgebung mit ToF-Sensoren

Dr. Miguel Heredia Conde (ZESS) und Dr. Thomas Kerstein (pmdtechnologies AG) präsentierten auf der 18. IEEE SENSORS die neuesten Ergebnisse der Zusammenarbeit beider Institutionen auf dem Gebiet der Mehrweg-Tiefenbildgebung mit ToF-Sensoren. Die Konferenz fand im Oktober 2019 in Montreal (Kanada) statt. Die Live-Demo diente als Proof-of-Concept für frühere Arbeiten der Autoren (Miguel Heredia Conde, Ayush Bhandari, Thomas Kerstein, Bernd Buxbaum und Otmar Loffeld) bei der Bewältigung der Mehrwegestörung (MPI), einer Hauptfehlerquelle bei der ToF-Tiefenbildgebung. Unter Verwendung eines realistischen Aufbaus zeigt die Demonstration, dass es möglich ist, mehr als einen einzelnen Lichtweg pro Pixel bei akzeptabel hohen Bildraten aufzulösen.


Für unsere chinesischen Gäste:

Das vollständige Video ist hier zu finden.


Zessplorations:

 

 
 
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